共創(chuàng)顯示次時代,思謀打造 Mini LED 智能檢測
一體化實現(xiàn)了針對高端屏顯的雙環(huán)節(jié)智能化檢測。該設(shè)備在 Mini LED 的封裝環(huán)節(jié)中可同時進行外觀檢測與點亮檢測,能夠準確檢測出偏移、錫膏、亮度、缺焊等10多種缺陷特征,漏檢率僅為0.05%,并可在0.005毫米的精度要求下,達到 1000 ㎜2/秒的檢測速度。
思謀集團旗下安思智造首創(chuàng)高端Mini LED光學(xué)缺陷檢測一體機?– 深度融合思謀的智能工業(yè)平臺 SMore ViMo 2.0 與智能化打光方案,一體化實現(xiàn)了針對高端屏顯的雙環(huán)節(jié)智能化檢測。該設(shè)備在 Mini LED 的封裝環(huán)節(jié)中可同時進行外觀檢測與點亮檢測,能夠準確檢測出偏移、錫膏、亮度、缺焊等10多種缺陷特征,漏檢率僅為0.05%,并可在0.005毫米的精度要求下,達到 1000 ㎜2/秒的檢測速度。
此外,該設(shè)備采用標準的 SMEMA 接口,可與自動返修設(shè)備無縫對接,實現(xiàn)雙環(huán)節(jié)檢測的數(shù)據(jù)打通,有效追溯造成缺陷的源頭工序,通過智檢大數(shù)據(jù)實現(xiàn)了制造工藝全流程的反向提升。

Mini LED是OLED后新出現(xiàn)的顯示技術(shù)。因為其具備高清晰、更流暢、低功耗、色彩豐富的特點,被認識是目前最適合作為元宇宙“入口”的顯示技術(shù),需求量激增。然而,Mini LED 面板晶片普遍不足0.1毫米,晶片體積小、布局密,質(zhì)檢難度極高,檢測精度和效率一直難以提升,成為Mini LED大規(guī)模量產(chǎn)和應(yīng)用的瓶頸。
思謀安思Mini LED 光學(xué)缺陷檢測一體機不僅能夠?qū)?Mini LED面板進行智能化檢測,還“能上能下”:可以無縫兼容傳統(tǒng)的直顯 LCD 面板的質(zhì)檢,更可滿足晶片體積不足30納米的Micro LED 面板的嚴苛檢測需求,全面提升了高端屏顯的質(zhì)檢能力,助推屏顯行業(yè)的快速發(fā)展。
目前,該設(shè)備已在國內(nèi)多家Mini LED 精密制造企業(yè)的產(chǎn)線上線,用于檢測頭部消費電子廠商基于Mini LED屏顯的旗艦產(chǎn)品。對于高端技術(shù)與產(chǎn)品而言,可靠的質(zhì)量是其“命門”,作為次時代顯示技術(shù)的“把關(guān)”者,思謀始終致力于將計算機視覺技術(shù)落地于高端質(zhì)檢,不斷以智能檢測助力前沿制造業(yè)的加速發(fā)展,共創(chuàng)次時代視覺生態(tài)。
— 完 —
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